テストで利用するICソケットに求められる要件

IC製造工程で利用するテスト用のICソケットは、半導体の電気的特性の試験を目的にしているもので、このようなテスト用のICソケットには様々な要求事項が存在します。ICソケット全般にいえることの一つに確実にファンクションテストが行われることは利用するICソケットの信頼性に関わる部分、テストソケットについてもデバイスの端子とソケットのプローブ部分が確実に接点を作りコンタクト性が高いものは、繰り返し使用するときにも安心感があります。仮に、コンタクト性が悪く接触性が低いソケットでは、接点不良などで正確な測定が実施できない可能性もある、テスト結果が悪い理由が接点不良などの場合、その原因を究明するのにも無駄な時間を要してしまうなど確実にテストが行えることが重視されるわけです。量産ラインの電気的特性試験で使用されることが多いソケットは、長い寿命と耐久性が求められますが、量産ラインは数多くの半導体やデバイスの測定が必要になるだけでなく、寿命が短いとその都度交換しなければならないなど生産性の低下にも繋がります。

そのため、テストで使用するソケットはより長い寿命や耐久性が欠かせないことが分かるのではないでしょうか。バーンインソケットは高温環境下での導通を行うのに対して、テスト用のICソケットはデバイスが要求する環境の中で想定できることが求められます。例えば、高周波特性が重要になっているICのときは波形測定に対応している仕様が求められます。